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全反射X射线荧光(TXRF)应用简介

更新日期: 2023-04-05
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全反射X射线荧光(TXRF)具有优异的检出限(低至pptpg),与其它具有类似元素检出限的检测手段相比,具有基体效应小、样品需求量小、操作相对简单、运行成本低等优势。

TXRF一次可以对70多种元素进行同时分析,这是原子吸收ETAASFAAS方法难以完成的。与质谱仪中的ICP-MSGDMS以及中子活化分析NAA等方法相比较,TXRF分析方法在快速、简便、经济、多元素同时分析、用样量少、检出限低、定量性好等方面有着综合优势。同时,TXRF多采用内标法,无需特定标准样品,仪器不需要额外冷却设备,通常无需使用保护气等辅助分析。因此,TXRF所分析的样品较为广泛,如下表:

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意大利GNR公司是一家老牌的欧洲光谱仪生产商,其X射线产品线诞生于1966年,经过半个多世纪的开发和研究,该产品线已经拥有众多型号满足多个行业的分析需求。

X射线衍射仪(XRD)可测试粉末、薄膜等样品的晶体结构等指标,多应用于分子结构分析及金属相变研究;而全反射X荧光光谱仪(TXRF)的检测限已达到皮克级别,其非破坏性分析特点应用在痕量元素分析中,涉及环境、医药、半导体、核工业、石油化工等行业;为迎合工业市场需求而设计制造的专用残余应力分析仪、残余奥氏体分析仪,近年来被广泛应用在材料检测领域,其操作的便捷性颇受行业青睐。



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