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全反射X射线在元素分析领域内的应用前景非常棒

发布日期: 2021-10-21
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  全反射X射线由X射线激发源、全反射光路系统、探测器、放大器、脉冲高度分析器和配置的计算机组成。主要是利用全反射将激发源一次X射线在样品上由散射引起的背景大大降低,故精度很高。它检测灵敏度高,可达纳克级以上(10-9¬——10-12g),定量分析简单,无集体效应操作简单。
  由于TXRF分析技术用样量很少,也不需要制作样品的烦琐过程,又没有本底增强或减弱效应,不需要每次对不同的基体做不同的基体校准曲线。另外由于使用内标法,对环境温度等要求很低。因而在简便性、经济性、用样量少等方面,都比WXRF方法有明显的优越性。
  在元素分析领域内的应用现状和发展前景都是令人鼓舞的。它可以广泛应用于地矿、冶金、化工、食品、生物、医药、环保、法检、考古、高纯材料等等各领域内的常量、微量、痕量元素分析测定。特别在半导体工业中的硅片表面质量控制方面,有着不可替代的优势,目前已在国际上得到广泛应用。
  1、地矿:金矿、铜精料和镍精料、萤石、长石、氧化锑;
  2、冶金:镍电解液、铜阳极泥、高冰镍中的贵金属、光谱纯Rh、金银首饰、铸铁、轴承;
  3、化工:柴油中的硫含量,各种催化剂,陶瓷釉药;
  4、环境保护:自来水、大气飘尘、污水污泥;
  5、生物:海洋动物牙齿和体液;
  6、医药:头发和指甲中的有益有害元素,丹参中有害微量元素;
  7、食品:饮料中有益和有害元素;
  8、刑侦法医:撞车现场样品鉴定。
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